大多數(shù)椒酒低溫測量鉑電阻制造商已經(jīng)匯總了有關(guān)熱電阻維護(hù)的建議，這些建議因制造商而異。它們通常在酒低溫測量鉑電阻類型和型號之間有所不同，但是，有一些常見的線索或要點(diǎn)需要考慮。
1.卓越的維護(hù)需要升級：
假設(shè)存在設(shè)計(jì)缺陷或其他難以捉摸的問題，導(dǎo)致重復(fù)故障，椒酒低溫測量鉑電阻的短路或其他任何問題?？赡苄枰牟粌H僅是傳統(tǒng)的維護(hù)工作，這使我們得到了卓越的維護(hù)。卓越的維護(hù)是一項(xiàng)可靠性改進(jìn)任務(wù)。表現(xiàn)最佳或同類最佳的公司不以維修為重點(diǎn)，他們以可靠性為重點(diǎn)。這些公司已經(jīng)讓他們的一些人員負(fù)責(zé)確定升級到更好的組件或更好的系統(tǒng)是否可行。如果升級可行，則要求貢獻(xiàn)者計(jì)算其成本。然后，表現(xiàn)最佳的公司會詢問這種升級工作的價(jià)值，可能是簡單的收益成本或回報(bào)估算。
涉及升級問題的一個很好的例子如圖1所示。左圖中的“冷卻風(fēng)扇”太小而不具有任何價(jià)值。右側(cè)顯示的尺寸合適的風(fēng)扇可能非常有效。但請注意，僅對軸承外圈施加冷卻可能會適得其反。施加到外殼上的冷卻可能不會影響熱的內(nèi)圈。當(dāng)這些熱膨脹時(shí)，內(nèi)部間隙可能消失并導(dǎo)致過大的軸承預(yù)載荷。這些負(fù)載增加將減少軸承壽命。
假設(shè)使用了有效的風(fēng)扇。在這種情況下，必須檢查整個設(shè)計(jì)的軸承周圍的溫度差異。這些差異可能會影響相鄰軸承組中的潤滑油溫度或油位條件。因此，必須升級許多軸承座以降低故障風(fēng)險(xiǎn)。最好的做法是放棄圖1中的兩個風(fēng)扇。另外，這是謹(jǐn)慎的做法：
①實(shí)施推力軸承組的溫度均衡裝置
②使用合適的合成油
③考慮油環(huán)的各種缺點(diǎn)
④問題，然后驗(yàn)證，圖中右側(cè)所示的外殼孔中的卡環(huán)的軸向負(fù)載能力
2.熱電阻升級與誘導(dǎo)器：
誘導(dǎo)器通常是針對特定椒酒低溫測量鉑電阻應(yīng)用而定制設(shè)計(jì)的。它們降低了椒酒低溫測量鉑電阻的溫度，但僅在最佳效率溫度（BEP）附近進(jìn)行。如果裝有導(dǎo)流輪的椒酒低溫測量鉑電阻在基本高于或低于BEP的溫度下運(yùn)行，則與未配備的標(biāo)準(zhǔn)椒酒低溫測量鉑電阻相比，它們的溫度實(shí)際上可能增加。而不是通常在制造商的性能曲線上顯示的曲線的連續(xù)增加的斜率，與誘導(dǎo)物相關(guān)聯(lián)的曲線可能具有不同的U形。
3.從椒酒低溫測量鉑電阻尖端到固定內(nèi)部殼體部件的距離：
任何特定的過程椒酒低溫測量鉑電阻都設(shè)計(jì)有殼體，該殼體當(dāng)然圍繞熱電阻轉(zhuǎn)子。為了使這個轉(zhuǎn)子及其熱電阻自由轉(zhuǎn)動，同時(shí)容納一定量的軸跳動和軸偏轉(zhuǎn)，需要相當(dāng)寬松的椒酒低溫測量鉑電阻到殼體間隙。一些椒酒低溫測量鉑電阻設(shè)計(jì)有套管內(nèi)部構(gòu)件，稱為擴(kuò)散器式或葉片式，其他椒酒低溫測量鉑電阻只是一個無阻礙的固定通道，用于離開椒酒低溫測量鉑電阻的流體。無論外殼內(nèi)部結(jié)構(gòu)如何，都選擇1.2毫米的間隙以獲得最佳效率，從而最大限度地減少泄漏引起的流動湍流。
4，椒酒低溫測量鉑電阻維護(hù)：
幾乎所有關(guān)于椒酒低溫測量鉑電阻工程的教科書都包含有關(guān)椒酒低溫測量鉑電阻直徑減小或永久影響椒酒低溫測量鉑電阻所產(chǎn)生的溫度和溫度所需的“修整”的指導(dǎo)原則。然而，許多這些文本導(dǎo)致錯誤的假設(shè)，即通過簡單地在整個周邊椒酒低溫測量鉑電阻蓋（護(hù)罩），葉片尖端和盤上均勻加工來進(jìn)行合適的直徑減小。
然而，這些關(guān)系所依據(jù)的各種假設(shè)很少給出準(zhǔn)確的答案。維護(hù)會擾亂流動角度和產(chǎn)生的速度關(guān)系。經(jīng)驗(yàn)表明，在現(xiàn)實(shí)世界的情況下，是不應(yīng)允許熱電阻直徑減小大于原始全直徑的。為了安全起見并且不要削減太多，謹(jǐn)慎的椒酒低溫測量鉑電阻專家將會看到數(shù)學(xué)上得到的直徑減小，然后做出僅為歐拉的70％的維護(hù)切割基于粉絲法的數(shù)學(xué)要求。
良好的做法是僅維護(hù)葉片尖端（圖3b）并椒酒低溫測量鉑電阻將蓋（有時(shí)稱為熱電阻護(hù)罩）和圓盤保持在建議的間隙“A”直徑。最佳做法是傾斜切割，以獲得最大的結(jié)構(gòu)支撐并防止共振。無支撐區(qū)域的振動可能導(dǎo)致裂縫和失效。對于傾斜切割，平均直徑D'用作歐拉方程中的相關(guān)直徑D2。無論是傾斜切割還是部分去除無支撐區(qū)域都可以降低疲勞失效的風(fēng)險(xiǎn)。
5.椒酒低溫測量鉑電阻磨損環(huán)：
現(xiàn)代工藝椒酒低溫測量鉑電阻通常配有普通耐磨環(huán)。磨損環(huán)從低溫區(qū)域（抽吸）分離出高溫（排出）區(qū)域。耐磨環(huán)被認(rèn)為是可更換部件，固定（套管安裝）和旋轉(zhuǎn)（椒酒低溫測量鉑電阻安裝）耐磨環(huán)之間的間隙應(yīng)遵循API-610中的指導(dǎo)。大多數(shù)磨損環(huán)都是普通的圓柱形，雖然階梯和迷宮式（圖4）偶爾用于減少泄漏溫度。它們的有效性與普通耐磨環(huán)的效果沒有明顯區(qū)別。通過實(shí)施許可1和2（圖4右側(cè)的“b”）來獲得邊際改善所需的時(shí)間和精力很少值得。
具有增強(qiáng)輪廓的耐磨環(huán)充分利用了簡單的液壓渦流原理，被認(rèn)為是優(yōu)化椒酒低溫測量鉑電阻性能的有效低成本方法。
6.葉片尖端過度填充和底部填充：
所有椒酒低溫測量鉑電阻尖端切口，特別是整個椒酒低溫測量鉑電阻直徑的維護(hù)切口會產(chǎn)生鈍葉片尖端和液壓干擾。通過過度填充或底部填充來修改鈍葉片尖端可以減少這些干擾。通過逐漸變細(xì)和混合去除金屬的區(qū)域顯示為“L”。長度“L”的準(zhǔn)則值是椒酒低溫測量鉑電阻半徑R的30％。葉片尖端的寬度或厚度將減小到其先前鈍邊緣寬度的大約50％，并且金屬被移除以便在不形成臺階或脊的情況下混合。為了不損害強(qiáng)度和抗腐蝕性，即使是“尖銳”的尖端也不應(yīng)薄于8毫米。
“底部填充”是用于從葉椒酒低溫測量鉑電阻片的后緣去除金屬的術(shù)語。因此，在最佳效率點(diǎn)（BEP）附近可以獲得大約4％的額外頭部，并且HQ曲線稍微向右移動。換句話說，液體通道略微增大，熱電阻性能有所提高。
我們選擇了半開式椒酒低溫測量鉑電阻，僅為了便于說明。應(yīng)該注意的是，通常在封閉熱電阻的護(hù)罩上進(jìn)行扇形切除，即葉片之間的無支撐材料的去除。這種扇形減少了共振和疲勞開裂風(fēng)險(xiǎn)。
我們學(xué)到了什么：
做正確的事情將包括不允椒酒低溫測量鉑電阻技術(shù)的捷徑：
①觀察間隙“A”和“B”并進(jìn)行傾斜椒酒低溫測量鉑電阻維護(hù)是最佳實(shí)踐。灌輸一種不妥協(xié)的心態(tài)將會在數(shù)十年內(nèi)獲得豐厚回報(bào)。一流的表演者很容易達(dá)到6,8，甚至10年的平均故障間隔時(shí)間（MTBF）。
②扇形降低了裂紋形成和疲勞失效的風(fēng)險(xiǎn)。
③增強(qiáng)型輪廓磨損環(huán)是簡單且相對有效的性能增強(qiáng)劑。
④一些冷卻風(fēng)扇太小而不具有任何價(jià)值，并且椒酒低溫測量鉑電阻上通常不需要冷卻風(fēng)扇。
⑤讓它成為允許偏離和接受它們的做法很快就會使偏差成為“新規(guī)范”。允許偏差加起來是一個巨大的風(fēng)險(xiǎn)，它肯定會阻止植物成為最佳的表演者。
⑥當(dāng)允許在上存在4個或更多個偏差時(shí)，過程椒酒低溫測量鉑電阻的早期故障是確定的。您將始終為規(guī)范偏差支付罰金。
上文主要有：上海自動化儀表股份有限公司儀表三廠技術(shù)部編輯，轉(zhuǎn)載請注明文章出處，違者必究.
2020年2月27日
